Nanoscan 855

Poskytuje velké rozpětí měření s rozlišením méně než nanometr. Tento systém kombinuje měření drsnosti a profilu s rozsahem měření 24 mm. Takovéto přesnosti je docíleno pomocí laserových interferometrů v kombinaci s optickým měřítkem s vysokým rozlišením. Tato technologie umožňuje jednoduché řešení těch nejsložitějších úkolů měření.

Vlastnosti

• Rozlišení 0,6 nanometrů s rozsahem měření 24 mm
• Programovatelná a zaměnitelná snímací ramínka
• Automatické rozeznání typu snímacího ramínka pomocí čipu umožňuje snadné použití více ramínek
• Chyby v měření a provozu jsou minimalizovány pomocí elektronické identifikace ve snímacím ramínku
• Rozsah měření 24 mm umožňuje provádět měření drsnosti a profilu na šikmých a velmi zakřivených plochách
• Umožňuje měření malých otvorů a komplexní geometrie obrobků
• Přesné nastavení polohy hrotu sondy umožňuje dosahovat přesné pozice v otvorech
• Posuvová délka max. 200 mm.
• Měřicí sloup umožňuje vertikální pohyb 550 mm
• Osy řízené počítačem zajišťují vysokorychlostní a plně automatické měření
• Úlohy měření lze nastavit a provádět přímo na panelu obsluhy
• Pracovní stanice s aktivním tlumením vibrací, velmi přesnou posuvovou jednotkou a stabilním měřicím sloupem zaručují optimální výsledky
• Vhodné pro aplikace v měřicí místnosti i dílenském prostředí